◆電磁気分析装置
　　Ｘ線分析装置（Ｘ線回折装置、蛍光Ｘ線分析装置各種）
　　電子顕微鏡（ＴＥＭ、ＳＥＭ、ＸＭＡ）
　　表面分析計（オージェ、エスカ、イオンプローブ等）
　　核磁気共鳴（ＮＭＲ）、質量分析計（ＭＳ）
　　二次イオン質量分析装置（ＳＩＭＳ）
　　ＲＢＳ表面分析装置
　　走査型プローブ顕微鏡

◆熱分析装置
　　示差熱天秤（ＴＧ−ＤＴＡ）、示差走査熱量計（ＤＳＣ）
　　熱機械分析装置（ＴＭＡ）、熱応カ・歪測定装置（ＴＭＡ／ＳＳ）
　　非接触膨張計、熱定数測定装置及び熱分析周辺機器

◆光分析装置
　　光ファイバー関連機器（プリフォームアナライザー、接着システム他）
　　原子吸光光度計（各種）、分光光度計（各種）
　　プラズマ発光分光分析システム
　　ＩＣＰ質量分析装置（ＩＣＰ−ＭＳ）
　　可搬式発光金属分析装置（ＡＲＣ−ＭＥＴ）
　　赤外分光光度計、炎光光度計
　　フーリェ変換赤外分光装置（ＦＴ／ＩＲ）

◆その他分析機器
　　ガス分析計（各種）、Ｃ、Ｓ、０、Ｎ、Ｈ専用分析機、放射線分析装置
　　環境関係分析機器（大気、水質）、油分濃度計
　　高温電気炉（タンマン炉、高周波炉、その他特殊電気炉）
　　粒度分布測定装置
　　油中のＳ分析計（ＯＮ−ＬＩＮＥ、ＯＦＦ−ＬＩＮＥ）

◆計測機器（オンライン計測関係）
　　オンラインＸ線分析システム（メッキ厚み、液コントロール、調合原料制御）
　　オンライン厚み測定システム、オンライン形状測定システム
　　オンライン成分測定システム、オンライン水分測定システム
　　オンライン探傷検査システム
　　その他各種オンライン分析機器及び附属装置

◆半導体関連機器
　　微小部メッキ膜厚計測定装置
　　イオンブレーティング、各種蒸着装置、単結晶成長炉
　　単結晶方位測定装置
　　ＦＩＢ加工観察分析装置
　　デバイス観察装置

◆自動サンプリングシステム及び情報処理システム
　　オートマティックサンプリング及び自動搬送システム
　　サンプルプレパレーション、オートマティックサンプルフィーダー
　　ＩＣＰ・ＡＡ自動前処理装置（自動分取希釈装置、試料自動分解装置）
　　Ｘ線分析用試料作成装置
　　中央処理装置及び周辺機器

◆天体観測機器
　　可搬型三次元分光器
　　分光光学素子類
　　検出器
　　その他特殊機器

◆環境機器
　　セラミックスフィルター
　　下水道汚泥処理機器（脱臭、固化）
　　静電界・磁界水処理装置
　　シックナー
　　連続式遠心分離機

◆電子材料
　　カラーＣＲＴディスプレイ
　　液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）
　　メモリー
　　各種材料

◆合成樹脂、エンジニアリング・プラスチックス
　　ナイロン樹脂
　　ＰＢＴ
　　ＰＥＴ
　　各種樹脂

◆コンピューター・アプリケーション及びシステム開発関係実施例
　　　１．ドロマイト中の金属片検出システム
　　　２．ポータブル型元素分析計
　　　３．塊状サンプル中の異物検出装置
　　　４．オンライン秤量測定システム
　　　５．マニュピレータ姿勢表示監視システム
　　　６．浮遊選鉱モデルプラント実験システム
　　　７．石油プラント向警報処理システム
　　　８．自動溶接機用位置制御システム
　　　９．石膏ボード製造プロセス管理分析システム
　　１０．自動焼入制御システム（重負荷用ギアー〉
　　１１．セメント原科調合プロセス無人化分析システム（１）
　　１２．オンライン試科前処理システム
　　１３．タイヤビルディングコントロールシステム
　　１４．セメント原科調合プロセス無人化分析システム（２）
　　１５．銅箔形状検査システム
　　１６．セメントクリンカ中ＦｒｅｅＬｉｍｅ分析システム